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场发射透射电子显微镜(Tecnai G2 F30)
发布人:系统管理员  发布时间:2012-06-27   浏览次数:6417

 

设备名称:场发射透射电子显微镜
型号:Tecnai G2 F30
生产厂家:美国FEI公司
投入使用日期:2009.07
安放地点:科学园B1栋1楼洁净间
设备价值:9610860.4
操作人员:范国华副教授,来忠红副教授,饶建存副教授,孟庆昌教授
联系电话:86417617、86414867
主要性能指标:点分辨率:0.205nm      
                      线分辨率:0.102nm
                      加速电压:300kV       放大倍数:60~1000000
主要配置及附件:CCD数字成像系统,X射线能谱仪(EDS),扫描透射(STEM),高角环形暗场探测器(HAADF),电子能量损失谱仪(EELS)
特色及用途:该仪器具有衍衬成像、高分辨成像、Z衬度成像、能量过滤成像、电子衍射、能谱分析和电子能量损失谱分析等多种功能,属于分析型透射电子显微镜,可实现材料微观组织形貌、晶体结构和微区成分的同位分析。该仪器采用场发射电子枪,具有较高的分辨率,特别适用于高分辨电子显微分析。样品类型包括金属材料、金属基复合材料和陶瓷及陶瓷基复合材料的薄膜样品,以及各种形状的纳米材料等。
应用领域:广泛应用于材料科学、物理、化学、地质诸多研究领域。
收费标准:机时费:400元/小时
       备注:该价格是校内价格,校外加倍