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新设备-EMPYREAN(锐影)X射线衍射仪技术指标与功能介绍
发布人:系统管理员  发布时间:2013-04-22   浏览次数:4544
 
EMPYREAN(锐影)X射线衍射仪技术指标与功能
 
 
 
设备名称:X射线衍射仪
型号:Empyrean锐影
生产厂家:荷兰Panalytical公司
投入使用日期:2013.04
安放地点:材料楼204-1室(结构分析室)
设备价值:41.5万美元
操作人员:崔喜平 博士,曾岗 高工
联系电话:86418834  86403936
主要性能指标:1陶瓷X光管: 最大功率:2.2kW(Cu靶)
2、测角仪重现性:0.0001
3可控最小步进:0.0001
4PIXcel3D超能探测器:最大计数率>109cps
5、五轴样品台:实现五个方向校正样品
主要配置及附件:
入射光路:固定发散狭缝(FDS)、平行光路(Mirror镜)和双十字狭缝(DCS)模块
衍射光路:PIXcel模块、平板准直器(PPC)模块
样品台:平板样品台、五轴样品台
其它附件:CCD数字成像系统与激光定位系统
特色及用途:Empyrean锐影具备满足当前4大类X射线分析要求的平台,即衍射、散射、反射和CT影像X射线分析平台,样品可以是粉末、薄膜、纳米材料和块状材料。 PreFIX预校准光路全模块化,不同光路系统及独特的五轴样品台等附件均可在几分钟内实现高精度更换。3D检测器系统PIXcel3D探测器接收效率、灵敏度、稳定性高。配备相应软件及PDF-2国际粉末衍射数据库。主要功能如下:
Ø        广角测角仪
适合于物相定性定量分析、晶型鉴别、结晶度测定以及晶胞参数精确测定等
Ø        薄膜分析附件
主要针对于薄膜材料的物相鉴定和膜厚测量
Ø        小角散射附件
测定起始角≤0.05o,适合于纳米材料粒径尺寸及分布分析
Ø        微区测量附件
主要针对微小区域(0.02-10mm区域,步长0.02mm)的物相鉴定以及实现二维(2D)衍射功能,得到直接可视化的德拜环
Ø        织构附件
适合于块体材料取向测定以及铸造织构研究
Ø        应力附件
适合于块体材料、涂层与薄膜的残余应力分析
应用领域:广泛应用于材料科学、物理、化学、地质诸多研究领域。
 
 
收费标准:
 
Empyrean锐影X射线衍射仪测试收费标准(试行版)
 
测试项目
校内收费标准
校外收费标准
1
常规粉末样品 θ-2θ 衍射图一次连续扫描测量
扫描范围≥100°和扫描速度≤4°/min 酌情加收
60元/样
120元/样
2
常规粉末样品步进扫描
  200元/小时
  400元/小时
3
物相定性测试与分析
(对于特殊样品物相分析收费面议)
100元/样
200元/样
4
物相定量测试分析
200元/样
400元/样
5
晶胞参数精确测定
200元/样
400元/样
6
晶粒尺寸及晶格畸变测定
150元/样
300元/样
7
结晶度测定
150元/样
300元/样
8
薄膜测量:薄膜样品θ-2θ 衍射图一次连续扫描测量
100元/样
200元/样
9
薄膜厚度测量
150元/样
300元/样
10
纳米材料粒径分布(小角散射)
150元/样
300元/样
11
材料织构、取相测定分析
  200元/小时
  400元/小时
12
微区物相鉴定
  200元/小时
  400元/小时
13
块体、薄膜应力测定
  200元/小时
  400元/小时
注释:①按样品数量收费项目,若测试时间超过1小时,按200元/小时计费;
②若需后续数据处理与分析,酌情加收费用。